موجود در انبار
تحویل اکسپرس
7 روز گارانتی بازگشت وجه
پشتیبانی همیشگی
پرداخت در محل
محصولات اصل
عیب یاب التراسونیک OLYMPUS OmniScan X3 یکی از پیشرفتهترین دستگاههای عیبیابی با تکنولوژی فاز آرایه (Phased Array) و روش تصویربرداری مبتنی بر فکوس کامل (Total Focusing Method – TFM) است که برای انجام بازرسیهای دقیق و سریع در شرایط سخت و پیچیده طراحی و تولید می شود. این دستگاه که در یک بدنه مقاوم و قابل حمل قرار می گیرد، با برخورداری از تواناییهای ویژه و عملکرد بینظیر خود، توانسته است جایگاهی ویژه در صنعتهای مختلف از جمله صنایع نفت، گاز، ساخت و تعمیرات، و بررسی وضعیت جوشهای ضخیم و پیچیده پیدا کند.
دستگاه عیب یاب التراسونیک OmniScan X3 از برند OLYMPUS با داشتن ویژگیهای منحصر به فرد خود، یکی از ابزارهای ضروری و پیشرفته در بازرسیهای صنعتی و آزمایشهای جوش است. این دستگاه با بهرهگیری از فناوریهای پیشرفتهای چون فاز آرایه 64 عنصره، روش TFM و قابلیتهای تصویربرداری پیشرفته، توانسته است جایگاه ویژهای در صنایع مختلف پیدا کند.
یکی از ویژگیهای برجسته OmniScan X3، ساختار متراکم و مقاوم آن است که امکان استفاده در محیطهای کاری دشوار و خارج از محل کارگاههای ثابت را فراهم میآورد. دستگاه در یک بدنه مقاوم و ضد ضربه قرار دارد که میتواند در برابر شرایط آب و هوایی سخت و ضربات فیزیکی مقاومت کند. این ویژگی باعث میشود دستگاه مناسب برای استفاده در سایتهای صنعتی، پروژههای ساختمانی، و آزمایشهای در فضای باز باشد.
فاز آرایه در دستگاه OmniScan X3 این امکان را میدهد که با استفاده از پروبهای فاز آرایه 64 عنصره و 128 عنصره، بازرسیهای دقیقی از مواد ضخیم و جذبکننده امواج انجام شود. این دستگاه با بهرهگیری از فناوریهای پیشرفته، توانایی کامل فکوس را در بُعد عمودی و افقی فراهم میآورد و دقت بسیار بالایی در شبیهسازی و تحلیل شرایط داخلی مواد دارد.
روش تصویربرداری TFM در OmniScan X3، ابزاری قدرتمند برای مشاهده دقیقتر و با جزئیات بیشتر معایب داخل مواد است. با استفاده از TFM، دستگاه قادر است تا تصاویری با کیفیت بالا و وضوح مناسب از معایب داخلی مانند ترکها، فساد، و جوشهای ناقص را ارائه دهد. این ویژگی به ویژه برای بازرسیهای جوشهای ضخیم و پیچیده کاربرد دارد.
OmniScan X3 با دامنه فرکانسی وسیع از 0.5 تا 18 مگاهرتز، امکان استفاده از انواع فرکانسها را در بازرسیهای مختلف فراهم میآورد. برای دستگاه مدل 64، دامنه فرکانسی آن از 0.2 مگاهرتز تا 26.5 مگاهرتز است. این ویژگی اجازه میدهد بازرسیهای دقیقتری حتی در مواردی که مواد کمدانه و حساس وجود دارند انجام شود.
OmniScan X3 از تکنیکهای مختلف بازرسی التراسونیک شامل PA (Phased Array)، TOFD (Time of Flight Diffraction) و TFM پشتیبانی میکند. این قابلیتها برای تحلیل دقیق و جامعتر از معایب و مشکلات مواد مختلف از جمله لولهها، جوشها، و مواد کامپوزیتی در شرایط مختلف به کار میروند. علاوه بر این، این دستگاه قادر است از چندین گروه و کانال به طور همزمان برای افزایش بهرهوری در فرایند بازرسی استفاده کند.
دستگاه OmniScan X3 با بهرهگیری از قابلیتهای تصویربرداری پیشرفته، تصویرهایی با کیفیت بسیار بالا تولید میکند. این امر به کاربران امکان تحلیل دقیقتر و مشاهده واضحتر معایب داخلی را میدهد. این ویژگی با استفاده از TFM و Phased Array امکان بازسازی تصاویری با وضوح بالا را فراهم میآورد که میتواند به سرعت مشکلات موجود در مواد و جوشها را شناسایی کند.
OmniScan X3 در چندین مدل مختلف عرضه میشود که هر کدام با توجه به نیازهای خاص صنایع و کاربردهای مختلف طراحی شدهاند. این مدلها شامل:
در هر کدام از این مدلها، دستگاه از تعداد مختلفی از پالسها و گیرندهها بهره میبرد که به تناسب نیاز کاربر، قابلیتهای متفاوتی را در بازرسی فراهم میآورد.
OmniScan X3 مجهز به حافظه SSD داخلی است که به ترتیب برای مدلهای مختلف، ظرفیتهایی از 64 گیگابایت تا 1 ترابایت را شامل میشود. این حافظه بالا امکان ذخیرهسازی دادههای بزرگ و تصاویر با کیفیت بالا را فراهم میآورد. با استفاده از این حافظه داخلی، میتوان دادههای حاصل از بازرسیهای طولانیمدت یا پروژههای وسیع را به راحتی ذخیره و مدیریت کرد.
دمای عملیاتی | 0 تا 45 درجه |
---|---|
دمای ذخیره سازی | -20 تا 60 درجه سانتی گراد (با باتری) |
رطوبت نسبی (RH) | حداکثر 70% RH |
رتبه بندی ضد ضربه | آزمایش Drop مطابق با MIL-STD-810G |
موجود در انبار
هنوز بررسیای ثبت نشده است.